原子力顯微鏡AFM探針

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normal align=left>氮化硅探針

normal align=left>用于接觸式或輕敲模式或力的測量。

normal align=left>非套裝，適用于BioScope AFM 及 Dimension 系列SPM。

每個基片有4個懸臂，彈性系數為0.06 - 0.58 N/m，共振頻率為18-65 KHz

normal align=left>包裝數量：10根/盒

normal align=left>針尖參數

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 2.5 - 8.0μm

正面角(FA): 15 ± 2.5°

背面角(BA): 25 ± 2.5°

側面角 (SA): 17.5 ± 2.5°

針尖曲率半徑(Nom): 20nm

針尖曲率半徑(Max): 60nm

針尖縮進 (TSB)(Nom): 4μm

針尖縮進范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7μm

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HarmoniX探針

用于納米材料樣品的屬性映射，標準樣品的硬度范圍在10MPa到10GPa之間。 HMX探針更適用于硬而粘的樣品表面。彈性系數2 N/m, 共振頻率為60 kHz, 鋁反射涂層

包裝數量：10根/盒

normal align=left>針尖參數

獨特的“離軸”設計，適用于Veeco HarmoniX模式，tr/fl=17N/m。

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幾何：各向異性

針尖高度 (h): 4 - 10μm

正面角(FA): 25 ± 2.5°

背面角(BA): 15 ± 2.5°

側面角(SA): 22.5 ± 2.5°

針尖曲率半徑(Nom): 10nm

針尖曲率半徑(Max): 12nm

針尖縮進(TSB)(Nom): 10μm

針尖縮進范圍(TSB)(RNG): 5 - 15μm

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MLCT

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氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數極低。

每個基片有6個懸臂，彈性系數為0.01 - 0.50 N/m

包裝數量：10根/盒

normal align=left>針尖參數

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 2.5 - 8.0μm

正面角 (FA): 15 ± 2.5°

背面角(BA): 25 ± 2.5°

側面角 (SA): 17.5 ± 2.5°

針尖曲率半徑(Nom): 20nm

針尖曲率半徑(Max): 60nm

針尖縮進(TSB)(Nom): 4μm

針尖縮進范圍(TSB)(RNG): 0 - 7μm

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MLCT-O10

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氮化硅探針

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用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數極低；

無針尖設計，為用戶的特殊應用提供了個性化的設計，如分子或粒子針尖；

每個基片有6個懸臂，彈性系數為0.01 - 0.50 N/m

包裝數量：10根/盒

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MLCT-UC

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normal align=left>氮化硅探針

用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數極低；

每個基片有6個懸臂，彈性系數為0.01 - 0.50 N/m，無涂層

normal align=left>包裝數量：10根/盒

注意：如果用戶沒有添加反射涂層的話不能用于探測成像或力測量。

normal align=left>針尖參數

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 2.5 - 8.0μm

正面角 (FA): 15 ± 2.5°

背面角 (BA): 25 ± 2.5°

側面角 (SA): 17.5 ± 2.5°

針尖曲率半徑(Nom): 20nm

針尖曲率半徑(Max): 60nm

針尖縮進 (TSB)(Nom): 4μm

針尖縮進范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7μm

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MSCT

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normal align=left>氮化硅探針

用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數極低；

每個基片有6個懸臂，彈性系數為0.01 - 0.50 N/m，有銳化處理，

包裝數量：10根/盒

normal align=left>針尖參數

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 2.5 - 8.0μm

正面角(FA): 15 ± 2.5°

背面角(BA): 25 ± 2.5°

側面角 (SA): 17.5 ± 2.5°

針尖曲率半徑(Nom): 10nm

針尖曲率半徑(Max): 40nm

針尖縮進 (TSB)(Nom): 4μm

針尖縮進范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7μm

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normal align=left>屬于 SNL (Sharp Nitride Lever)探針系列.
MSNL 探針將硅針尖的銳利和氮化硅懸臂的低彈性指數高靈敏度完美結合，在任何樣品任何媒介中都能得到一種前所未有的高分辨率和力量控制
每個基片有6個懸臂，彈性系數為0.01 - 0.50 N/m，有銳化處理

包裝數量：10根/盒

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normal align=left>探針參數

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 2.5 - 8.0μm

正面角 (FA): 15 ± 2.5°

背面角 (BA): 25 ± 2.5°

側面角 (SA): 22.5 ± 2.5°

針尖曲率半徑(Nom): 2nm

針尖曲率半徑(Max): 12nm

針尖縮進 (TSB)(Nom): 4μm

針尖縮進范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7μm

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用于接觸式、輕敲式和力的測量

normal align=left>每個基片有4個懸臂，彈性系數為0.06 - 0.58 N/m， Au涂層針尖

包裝數量：10根/盒

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normal align=left>針尖參數

normal align=left>針尖表面的黃金涂層使針尖功能化更容易 (如：使用硫醇化學).

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 2.5 - 8.0μm

正面角 (FA): 15 ± 2.5°

背面角 (BA): 25 ± 2.5°

側面角 (SA): 17.5 ± 2.5°

針尖曲率半徑(Nom): 30nm

針尖曲率半徑(Max): 90nm

針尖縮進 (TSB)(Nom): 4μm

針尖縮進范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7μm

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每個基片有2個懸臂，彈性系數為0.006 - 0.03N/m，Au涂層針尖

包裝數量：10根/盒

normal align=left>針尖參數

normal align=left>針尖表面的黃金涂層使針尖功能化更容易 (如：使用硫醇化學)..

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 5 - 10μm

正面角 (FA): 0 ± 1°

背面角 (BA): 45 ±1°

側面角 (SA): 45 ±1°

針尖曲率半徑(Nom): 30nm

針尖曲率半徑(Max): 40nm

針尖縮進 (TSB)(Nom): 0μm

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RFESP

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硅探針

normal align=left>彈性指數3N/m, 共振頻率75kHz, 旋轉針尖, 無涂層

包裝數量：10根/盒

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normal align=left>針尖參數

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 15 - 20μm

正面角 (FA): 15 ± 2°

背面角 (BA): 25 ± 2°

側面角 (SA): 17.5 ± 2°

針尖曲率半徑 (Nom): 8nm

針尖曲率半徑 (Max): 12nm

針尖縮進 (TSB)(Nom): 15μm

針尖縮進范圍 (TSB)(RNG): 5 - 25μm

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RTESP

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硅探針

normal align=left>彈性指數40N/m, 共振頻率300kHz, 旋轉針尖, 無涂層

包裝數量：10根/盒

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normal align=left>針尖參數

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 15 - 20μm

正面角 (FA): 15 ± 2°

背面角 (BA): 25 ± 2°

側面角 (SA): 17.5 ± 2°

針尖曲率半徑(Nom): 8nm

針尖曲率半徑 (Max): 12nm

針尖縮進 (TSB)(Nom): 15μm

針尖縮進范圍(TSB)(RNG): 5 - 25μm

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normal align=left>Bruker's New Sharp Nitride Lever
將硅針尖的銳利和氮化硅懸臂的低彈性指數高靈敏度完美結合，在任何樣品任何媒介中都能得到一種前所未有的高分辨率和力量控制
每個基片有4個懸臂，彈性系數為0.06 - 0.58N/m，銳化的硅針尖

包裝數量：10根/盒

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normal align=left>針尖參數

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 2.5 - 8.0μm

正面角 (FA): 15 ± 2.5°

背面角 (BA): 25 ± 2.5°

側面角(SA): 22.5 ± 2.5°

針尖曲率半徑 (Nom): 2nm

針尖曲率半徑 (Max): 12nm

針尖縮進 (TSB)(Nom): 4μm

針尖縮進范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7μm

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超尖探針，彈性指數42N/m, 共振頻率320kHz, 針尖曲率半徑2-5nm, 無涂層

包裝數量：10根/盒

normal align=left>針尖參數

幾何：各向異性

針尖高度 (h): 10 - 15μm

正面角 (FA): 25 ± 2.5°

背面角 (BA): 15 ± 2.5°

側面角 (SA): 22.5 ± 2.5°

針尖曲率半徑 (Nom): 2nm

針尖曲率半徑 (Max): 5nm

針尖縮進 (TSB)(Nom): 15μm