紙紙對轉(zhuǎn)印率的形響紙質(zhì)對干轉(zhuǎn)印率灼影響因秦,主要是其體積電限和含水串.
圖3-83所示.是用A. B, C和D四種不同的紙質(zhì)進(jìn)行試毅的結(jié)果.由用可見,紙的
體積電阻(O1cm'》不同時,轉(zhuǎn)印串也不相同,‘仁積電以增大時,轉(zhuǎn)印*也增加.川為
紙的體積電阻低.共電場強(qiáng)度低,轉(zhuǎn)印率也低.如紙的體積電甩率太低,對紙充電,就
會透過紙.結(jié)果是在給光導(dǎo)且充電,即增強(qiáng)了光導(dǎo)層表面的電場.而紙表0的屯場降低.
因此轉(zhuǎn)印率也被降低.
![](http://zs1.img-1.com/pic/101664/zyzj/20150722102931_4344_zs_sy.jpg)
空氣的相對盈度對轉(zhuǎn)印磨的形叻
空氣的栩?qū)δ葘τ诩埖捏w積電應(yīng)飽有
很大影響.如圖3-85所示.相對沮度姍
加時,紙的體積電阻減小.相對召度達(dá)
到80%時,體積電阻的下降福磨視大,
對轉(zhuǎn)印率產(chǎn)生嚴(yán)重影響.相對涅度為30%時,
色粉轉(zhuǎn)印率為80腸.但在相對
涅度為80時,色粉轉(zhuǎn)印串僅為30-/0%.
因此,搜度過高時,轉(zhuǎn)印有困難,復(fù)印密度低,時復(fù)印質(zhì)盆不利.最嚴(yán)重時,甚至
完全無法進(jìn)行轉(zhuǎn)印.若局部受翻時.復(fù)印腸會有局部空白和泥印的現(xiàn)象產(chǎn)生.址后應(yīng)指
出,在空氣溯泥的天氣使用友印機(jī)時,由于紙的體積電皿變小.所以應(yīng)降低轉(zhuǎn)印電壓.
![](http://zs1.img-1.com/pic/101664/zyzj/20150722103005_9768_zs_sy.jpg)
由于每個光導(dǎo)體的質(zhì)量以及復(fù)印機(jī)的工作爭件不盡相同,因此對于靜電特性的要求
也不一樣.所以,對質(zhì)量和工作參數(shù)的控制必須嚴(yán)格.對硒鼓的檢查,可以用目視檢查
或?qū)S脺y試裝置檢查.
用目視檢查硒層外表表面應(yīng)均勻且有光澤,不應(yīng)有明顯的氣泡、傷痕和結(jié)晶區(qū)城
等.
使用專用測試裝置檢測硒光導(dǎo)體的主要靜電參數(shù),檢測結(jié)果應(yīng)記錄在曬光導(dǎo)體的
說明書上,其內(nèi)容包括:
·在暗室中,充以6.5kV的正電壓經(jīng)30s以后停止,并立即進(jìn)行測定,.‘相對于鋁
,墓體接地的平均正電位約為500VO
。亞電位對于平均正電位的相對漂移不得大于15%,
·1分鐘后的暗衰減不得大于30%,
·用曝光量為30勒克斯·秒曝光以后,剩余電位應(yīng)小于15%s
·連續(xù)進(jìn)行15分鐘的充電和曝光以后,初始電位波動應(yīng)小于15%s
·在暗室中,充電停止后,經(jīng)30秒,測得硒層負(fù)電位與正電位之比應(yīng)小于30%.
![](http://zs1.img-1.com/pic/101664/zyzj/20150722102925_4440_zs_sy.jpg)