1uf 50v貼片鋁電解電容

 首先要明確一點，鋁電解電容一定會壞，只是時間問題。影響電容壽命的原因有很多，過電壓，逆電壓，高溫，急速充放電等等，正常使用的情況下，影響多數(shù)就是溫度，因為溫度越高電解液的揮發(fā)損耗越快。需要注意的是這里的溫度不是指環(huán)境或表面溫度，是指鋁箔工作溫度。廠商通常會將電容壽命和測試溫度標注在電容本體。

 因電容的工作溫度每增高10℃壽命減半，所以不要以為2000小時壽命的鋁電解電容就比1000小時的好，要注意確認壽命的測試溫度。每個廠商都有溫度和壽命的計算公式，在設計電容時要參照實際數(shù)據(jù)進行計算。需要了解的是要提高鋁電解電容的壽命，第1要降低工作溫度，在PCB上遠離熱源，第二考慮使用zui 高工作溫度高的電容，當然價格也會高一些。

 電解電容在電路中實際要承受的電壓不能超過它的耐壓值。在濾波電路中，電容的耐壓值不要小于交流有效值的1.42倍。使用電解電容的時候，還要注意正負極不要接反。不同電路應該選用不同種類的電容?？窕芈房梢赃x用云母、高頻陶瓷電容，隔直流可以選用紙介、滌綸、云母、電解、陶瓷等電容，濾波可以選用電解電容，旁路可以選用滌綸、紙介、陶瓷、電解等電容。電容在裝入電路前要檢查它有沒有短路、斷路和漏電等現(xiàn)象，并且核對它的電容值。安裝的時候，要使電容的類別、容量、耐壓等符號容易看到，以便核實。

 壽命估算(life expectancy)：電解電容在zui 高工作溫度下，可持續(xù)動作的時間。

 lx=lo*2(to-ta)/10

 lx=實際工作壽命

 lo=保證壽命

 to=zui 高工作溫度(85℃105℃)

 ta=電容器實際工作周圍溫度

 example：規(guī)范值105℃/1000hrs

 65℃壽命推估：lx=1000*2(105-65)/10

 實際工作壽命：16000hrs

 高溫負荷壽命(load life)將電解電容器在zui 高工作溫度下，印加額定工作電壓，經(jīng)一持續(xù)規(guī)定完成時間后，須符合下列變化：δcap：試驗前之值的20%以內(nèi)。

鋁電解電容的失效機理

1.漏液

 在正常的使用環(huán)境當中，經(jīng)過一段時間密封便可能出現(xiàn)泄漏。通常，溫度升高、振動或密封的缺陷等都有可能加速密封性能變壞。漏液的結果是電容值下降、等效串聯(lián)電阻增大以及功率耗散相應增大等。漏液使工作電解液減少，喪失了修補陽極氧化膜介質的能力，從而喪失了自愈作用。此外，由于電解液呈酸性，漏出的電解液還會污染和腐蝕電容器周圍其他的元器件及印刷電路板。

2.介質擊穿

 鋁電解電容器擊穿是由于陽極氧化鋁介質膜破裂，導致電解液直接與陽極接觸而造成的。氧化鋁膜可能因各種材料、工藝或環(huán)境條件方面的原因而受到局部損傷，在外電場的作用下工作電解液提供的氧離子可在損傷部位重新形成氧化膜，使陽極氧化膜得以填平修復。但是如果在損傷部位存在雜質離子或其他缺陷，使填平修復工作無法完善，則在陽極氧化膜上會留下微孔，甚至可能成為穿透孔，使鋁電解電容擊穿。工藝缺陷如陽極氧化膜不夠致密與牢固，在后續(xù)的鉚接工藝不佳時，引出箔條上的毛刺刺傷氧化膜，這些刺傷部位漏電流很大，局部過熱使電容器產(chǎn)生熱擊穿。

液態(tài)鋁電解自身特性同其發(fā)展現(xiàn)狀

鋁電解電容發(fā)展的歷程：

1921年液態(tài)鋁電解電容器研發(fā)成功

1956年固態(tài)鉭質電容研發(fā)成功

1996年固態(tài)鋁電解電容器研發(fā)成功，但電壓25V含以上為瓶頸。

2010年綠寶石開始投入針對25V以上電壓開發(fā)，力爭突破固態(tài)鋁電解電容電壓25V以上瓶頸問題。

2014年底綠寶石已開發(fā)出250V固態(tài)鋁電解電容并量產(chǎn)。

液態(tài)鋁電解電容描述：

以氧化鋁為介質，以電解液為陰極的鋁質電容器。正箔同AL2O3結合借以正引線作為正極引出（陽極），電解液借以負箔和負引線作為負極引出（陰極）。

液態(tài)鋁電解外型包含：

引線式（導針型）、焊針式（牛角型）、螺栓式、貼片型（SMD）

液態(tài)鋁電解具有特點：

電解液做負極、介質的依附性同再生性和可控性及單向導通性、高承載電場強度能力（達600KV/MM為紙質30倍）、容量密度高且隨電壓成反比、價廉，工藝成熟。相對鉭電解、鈮電解電壓200V上限，鋁電解在國內(nèi)可以做到630V。

失效現(xiàn)象有：漏液、起鼓、燃燒、衰減等