離子污染測(cè)試儀

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美國(guó)SCS Ionograph SMD V離子污染測(cè)試儀

SCS Ionograph離子污染測(cè)試系統(tǒng)

在業(yè)界內(nèi)，SCS就意味著采用自動(dòng)化的萃取液電阻（ROSE）測(cè)試系統(tǒng)。SCS Ionograph離子污染測(cè)試系統(tǒng)是利用動(dòng)態(tài)萃取方法測(cè)量將基片浸入到超高純測(cè)試溶液后電阻率的變化情況。電阻率的變化程度指明了污染水平的高低，這種污染通常是由于制造和電路板裝配過程中的殘留物造成的。

SCS提供一整套的容量和控制措施來滿足任何實(shí)驗(yàn)室或制造商的需求。適用范圍從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)工廠，眾多環(huán)境下，滿足快速而準(zhǔn)確的離子污染測(cè)試要求的產(chǎn)品離子污染清潔度測(cè)試，SCS Ionograph 產(chǎn)品特點(diǎn)：

l 適用于檢測(cè)元器件、SMT組裝產(chǎn)品、封裝載板、PCB裸板各類電子產(chǎn)品的離子污染物含量指標(biāo)；

l 檢測(cè)速度快、再生性好、精度高；

l 行業(yè)權(quán)威產(chǎn)品，無需進(jìn)一步尋求第三方檢測(cè)；

l 在封裝與涂覆防護(hù)材料前迅速確認(rèn)離子污染程度；

l 滿足現(xiàn)有的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，如ANSI/J-STD-001D和IPC-TM-650，以及MIL-STD-2000A，MIL-P-28809A等各行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

SCS Ionograph SMD V離子污染測(cè)試儀

SCS Ionograph SMD V是放置在地面的柜式儀器，主要適用于尺寸較大的產(chǎn)品，儀器的循環(huán)系統(tǒng)在液面以下實(shí)現(xiàn)噴淋循環(huán)，大幅減少空氣造成的干擾。設(shè)備配置可選擇的加熱系統(tǒng)以及高靈敏度的探頭，適合于檢測(cè)高精密線路的器件，操作簡(jiǎn)便，測(cè)試準(zhǔn)確。

SCS Ionograph SMD V提供的加熱選項(xiàng)，可以讓用戶決定是否在測(cè)試過程中對(duì)測(cè)試液進(jìn)行加熱，根據(jù)IPC-TM-650的描述，加熱可以促進(jìn)離子污染物的溶出，尤其是那些不易溶解的助焊劑殘?jiān)约耙恍┌挡亟锹?，比如貼片元器件的底部的污染物快速溶解。另外加熱系統(tǒng)可以保持整個(gè)測(cè)試過程中測(cè)試液溫度的恒定不變。

SCS Ionograph SMD V產(chǎn)品特點(diǎn)：

l 動(dòng)態(tài)測(cè)試法測(cè)試，精度極高；

l 測(cè)試起始點(diǎn)溶液電阻率設(shè)定在350M-cm以上，靈敏度高；

l 采用浸沒式循環(huán)噴淋設(shè)計(jì)，有效避免空氣中可溶性氣體對(duì)測(cè)試的影響；

l 軟件可使用3種不同單位顯示測(cè)試過程曲線，并可自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告；

l 采用微量高精度流量計(jì)偵測(cè)流量，結(jié)果更加精密；

l 全集成電控系統(tǒng)，設(shè)備穩(wěn)定性好，故障率極低；對(duì)維護(hù)要求極低；

l 樹脂組容量大，可長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作，降低更換頻率；

l 落地式機(jī)臺(tái)萬向輪支撐，方便移動(dòng)；

l 測(cè)試槽有足夠?qū)挾?，也適用于帶器件及有一定體積的產(chǎn)品測(cè)試；

l 全不銹鋼槽體，機(jī)體結(jié)構(gòu)堅(jiān)固耐久。

陳德華 13602588976