產(chǎn)品介紹：、、詹HPA美國惠普精密LCR測試儀
美國惠普HPa精密LCR測試儀是用于元件和材料測量的價廉物美的儀器.它們通過提供精確、高吞吐量的測試方法來改變元件的質(zhì)量.hz到mhz寬的測頻范圍和優(yōu)良的測試信號,使HP a的測試元件時符合最通行的測試標(biāo)準(zhǔn)如iec/mil標(biāo)準(zhǔn)(國際電工委員會或美國軍用標(biāo)準(zhǔn)),且工作在模擬所使用的工作條件下.無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗,HP a能滿足全部lcr測量要求.
技術(shù)指標(biāo) (全面的技術(shù)指標(biāo)請參閱技術(shù)資料)
被測參數(shù)z|-θ,|y|-θ,r-x,g-b;c-d,q,esr, g,rp;l-d,q,esr,g,rp;偏差和%偏差
測量電路模式:串聯(lián)和并聯(lián)
量程轉(zhuǎn)換:自動和手動
觸發(fā):內(nèi)部、外部、手動和總線(HP-ib)
延遲時間:~.s,以ms步進(jìn)
測量
終端:四端對
測試電纜長度:
HPa:標(biāo)準(zhǔn):和m;帶選件時:、、和m
積分時間:短、中等和長 取平均:~,可程控
測試信號 HP a:hz~mhz±.%,個可選擇頻率
測試信號方式 標(biāo)準(zhǔn):分別在開路或短路的測量端,而不是在被測件上對選定的
電壓或電流編程 恒定:維持被測件上選定的電壓或電流,而與器件阻抗和變化無關(guān).
