| 服務(wù)項目 | 瀏覽量24 | 發(fā)布時間2019-09-02 |
| 品牌TLA | 所在地 | 起訂≥1 臺 |
| 供貨總量未填 | 發(fā)貨0天內(nèi)發(fā)貨 | 有效期至2025-03-09 |
Zeta-20臺式光學(xué)輪廓儀是非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)。 該系統(tǒng)采用ZDot?專利技術(shù)和Multi-Mode （多模式)光學(xué)系統(tǒng)，可以對各種不同的樣品進行測量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理，以及納米至毫米級別的臺階高度。
Zeta-20的配置靈活并易于使用，并集合了六種不同的光學(xué)量測技術(shù)。ZDot?測量模式可同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color（真彩）無限遠焦點圖像。其他3D測量技術(shù)包括白光干涉測量、Nomarski干涉對比顯微鏡和剪切干涉測量。 ZDot或集成寬帶反射儀都可以對薄膜厚度進行測量。 Zeta-20也是一種高端顯微鏡，可用于樣品復(fù)檢或自動缺陷檢測。 Zeta-20通過提供全面的臺階高度、粗糙度和薄膜厚度的測量以及缺陷檢測功能，適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。
· 采用ZDot和Multi-Mode（多模式）光學(xué)器件的簡單易用的光學(xué)輪廓儀，具有廣泛的應(yīng)用
· 可用于樣品復(fù)檢或缺陷檢測的高質(zhì)量顯微鏡
· ZDot：同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color（真彩）無限遠焦點圖像
· ZXI：白光干涉測量技術(shù)，適用于z向分辨率高的廣域測量
· ZIC：干涉對比度，適用于亞納米級別粗糙度的表面并提供其3D定量數(shù)據(jù)
· ZSI：剪切干涉測量技術(shù)提供z向高分辨率圖像
· ZFT：使用集成寬帶反射計測量膜厚度和反射率
· AOI：自動光學(xué)檢測，并對樣品上的缺陷進行量化
· 生產(chǎn)能力：通過測序和圖案識別實現(xiàn)全自動測量
· 臺階高度：納米到毫米級別的3D臺階高度
· 紋理：平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波紋度
· 外形：3D翹曲和形狀
· 應(yīng)力：2D薄膜應(yīng)力
· 薄膜厚度：30nm到100μm透明薄膜厚度
· 缺陷檢測：捕獲大于1μm的缺陷
· 缺陷復(fù)檢：采用KLARF文件作為導(dǎo)航以測量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置
還沒找到您需要的 其他分析儀器產(chǎn)品 ？立即發(fā)布您的求購意向，讓 其他分析儀器公司 主動與您聯(lián)系！
立即發(fā)布求購意向本網(wǎng)頁所展示的有關(guān)【Zeta-20臺式_其他分析儀器_北京億誠恒達科技有限公司】的信息/圖片/參數(shù)等由悠牛網(wǎng)的會員【北京億誠恒達科技有限公司】提供，由悠牛網(wǎng)會員【北京億誠恒達科技有限公司】自行對信息/圖片/參數(shù)等的真實性、準確性和合法性負責(zé)，本平臺（本網(wǎng)站）僅提供展示服務(wù)，請謹慎交易，因交易而產(chǎn)生的法律關(guān)系及法律糾紛由您自行協(xié)商解決，本平臺（本網(wǎng)站）對此不承擔(dān)任何責(zé)任。您在本網(wǎng)頁可以瀏覽【Zeta-20臺式_其他分析儀器_北京億誠恒達科技有限公司】有關(guān)的信息/圖片/價格等及提供【Zeta-20臺式_其他分析儀器_北京億誠恒達科技有限公司】的商家公司簡介、聯(lián)系方式等信息。
在您的合法權(quán)益受到侵害時，歡迎您向郵箱發(fā)送郵件，或者進入《網(wǎng)站意見反饋》了解投訴處理流程，我們將竭誠為您服務(wù)，感謝您對悠牛網(wǎng)的關(guān)注與支持！
400-6352-900
