金屬檢測(cè)光譜儀

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日立分析儀器新一代OE750直讀光譜儀

實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)儀器解決方案為您解決產(chǎn)品檢測(cè)的難題。

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用于全面金屬分析控制、極致質(zhì)量控制，絕不妥協(xié)、高性能金屬分析，價(jià)格合理

由于復(fù)雜的供應(yīng)鏈，以及作為基礎(chǔ)材料使用的廢舊金屬數(shù)量的增加，鑄造廠和金屬制造商在控制熔體中的雜質(zhì)和痕量元素時(shí)，面臨著更多的壓力。新型OE750型直讀光譜儀具有前所未有的性能水平。它涵蓋金屬中所有元素的光譜，并實(shí)現(xiàn)對(duì)某些元素的最低檢出限。因此，此款分析儀具備價(jià)格高昂的同類儀器所能提供的功能水平，可為眾多鑄造廠和金屬制造商提供優(yōu)質(zhì)分析。

OE750實(shí)現(xiàn)高分辨率和寬動(dòng)態(tài)范圍要?dú)w功于采用了先進(jìn)CMOS探測(cè)器技術(shù)的革命性新光學(xué)理念。其中有四項(xiàng)專利正處于申請(qǐng)狀態(tài)。因此，這種新型分析儀能覆蓋非常寬的波長(zhǎng)范圍；這意味著該分析儀能測(cè)量金屬中ppm級(jí)別的所有元素。這對(duì)于滿足當(dāng)今嚴(yán)格的金屬規(guī)格分析至關(guān)重要，該分析儀可以滿足新的ASTM E415標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于碳鋼和低合金鋼的試驗(yàn)方法的要求。

OE750是鋁鑄件的理想光譜儀，因?yàn)樗梢詼y(cè)定亞共晶和過共晶鋁硅合金中含量極低的磷。它可以分析銻、鉍、鍶和鈉，以及雜質(zhì)和痕量元素，從而確保這些元素能夠被控制在鋁熔體中，以優(yōu)化結(jié)構(gòu)改造。創(chuàng)新性光學(xué)設(shè)計(jì)能實(shí)現(xiàn)更短的啟動(dòng)時(shí)間，因?yàn)楣鈱W(xué)系統(tǒng)的體積相對(duì)較小。這有助于那些需要在多點(diǎn)測(cè)量驗(yàn)證熔體質(zhì)量的工廠實(shí)現(xiàn)高批量生產(chǎn)。

除了新的光學(xué)設(shè)計(jì)之外，OE750還有其他支持大批量金屬分析的技術(shù)特性。它有一個(gè)新的密封火花臺(tái)，具有優(yōu)化層流設(shè)計(jì)，可降低氬氣消耗，降低污染的可能性，并大大降低維護(hù)要求。帶有低壓氬氣吹掃的獨(dú)特中壓系統(tǒng)可減少泵的使用。這可將泵的功耗降低90%，并避免油氣污染，從而增加可靠性和儀器的正常運(yùn)行時(shí)間。這使得OE750具有高可靠性和低運(yùn)行成本。

除創(chuàng)新性硬件技術(shù)外，新型OE750還包括可提高性能的軟件。例如，它包括日立牌號(hào)數(shù)據(jù)庫，該數(shù)據(jù)庫包含來自69個(gè)國家的339,000多種材料的1,200多萬條記錄和標(biāo)準(zhǔn)，減少了人工查閱牌號(hào)目錄的時(shí)間和潛在錯(cuò)誤?？蛇x的爐料校正軟件會(huì)自動(dòng)計(jì)算添加至熔體中的正確材料量，使其符合規(guī)范。

日立OES產(chǎn)品業(yè)務(wù)開發(fā)經(jīng)理Wilhelm Sanders表示：“在過去，鑄造廠和金屬加工企業(yè)在購買儀器時(shí)，不得不在高分析性能和可接受價(jià)格范圍之間作出選擇?，F(xiàn)在有了新型OE750，他們無需想出折中方案了。OE750能憑借一套可使用的解決方案提供全面的金屬分析?！?span lang="EN-US">

介紹OE750：專為全新級(jí)OES分析而設(shè)計(jì)

OE750是一款獨(dú)創(chuàng)性設(shè)備。這款OES光譜儀具有頂級(jí)儀器的性能，但其購買價(jià)格優(yōu)惠，運(yùn)行成本合理。目前，其是同類產(chǎn)品中唯一能夠?qū)崿F(xiàn)全新級(jí)OES分析的光譜儀，例如：

分析鋼鐵中所有合金、處理、痕量元素、殘余元素和夾雜元素的能力。OE750能提供極低的檢出限，可檢測(cè)含量低于10ppm的銻、硼、鉛、氮、鋅、鉍、硒和碲。

符合經(jīng)修訂的ASTM E415中有關(guān)碳鋼和低合金鋼測(cè)試方法和ASTM E1086中有關(guān)不銹鋼分析標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法的要求。此款分析儀可輕松檢測(cè)含量為10ppm的氮元素。

允許鋁壓鑄機(jī)將近共晶和過共晶鋁-硅合金中的磷、銻和鉍的含量控制在極低限值內(nèi)?？刂拼祟愒丶捌渌麏A雜元素和痕量元素可確保鋁加工廠對(duì)優(yōu)化熔體結(jié)構(gòu)具備更強(qiáng)的控制能力。

輕松檢測(cè)含量為1ppm的廢金屬中的痕量元素，包括鋅。這對(duì)回收汽車部件或分揀來料廢品至關(guān)重要。

通過分析氮、氧和氫等氣體元素，控制鈦的生產(chǎn)。

分析精煉廠中銅陽極以及鑄造廠中黃銅、青銅、錫青銅和其他銅合金的潛力。

全面的痕量元素分析，用于支持高端金屬加工和成型廠所用進(jìn)料的材料可靠性鑒定測(cè)試。

此款光譜儀的這些能力可確保鑄造廠和金屬加工廠首次無需出于成本考量而降低性能標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)于鑄造廠、煉鋼廠、金屬制造商和廢金屬廠而言，OE750以具有成本效益的價(jià)格，提供全新級(jí)OES分析。

極致質(zhì)量控制，符合標(biāo)準(zhǔn)

OE750在同類產(chǎn)品中具有最佳光學(xué)分辨率，并涵蓋金屬中元素的整個(gè)光譜，能提供某些最低檢出限。此性能通過構(gòu)思新光學(xué)概念和發(fā)展其他技術(shù)創(chuàng)新而實(shí)現(xiàn)，例如新型密封火花臺(tái)和火花放光源。

額外優(yōu)點(diǎn)（例如：?jiǎn)?dòng)速度加快，維護(hù)間隔縮短）確保光譜儀支持高產(chǎn)量生產(chǎn)和100% 的PMI質(zhì)量保證計(jì)劃。

迄今為止，在整個(gè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)ppm級(jí)別的高端金屬分析需要昂貴的OES光譜儀。OE750已徹底改變這一點(diǎn)。OE750設(shè)計(jì)的價(jià)格合理，可為鑄造廠、金屬加工公司和回收設(shè)施提供高精度現(xiàn)場(chǎng)分析。

最后，您無須為了成本考量而降低性能標(biāo)準(zhǔn)。以下是五個(gè)原因：

在同類光譜儀產(chǎn)品中性能最高。

一項(xiàng)革命性的新型光學(xué)設(shè)計(jì)，四項(xiàng)專利正在申請(qǐng)中，為OE750提供了極高的光學(xué)分辨率和動(dòng)態(tài)范圍。該光譜儀可測(cè)量金屬中所有ppm級(jí)別含量的元素。這對(duì)處于金屬生產(chǎn)前沿的公司而言至關(guān)重要。例如，該光譜儀可滿足新的ASTM E415測(cè)試方法對(duì)碳鋼和低合金鋼的要求。該光譜儀能夠檢測(cè)鋁合金中10ppm級(jí)別含量的磷、硼和銻元素。OE750可確保來料符合指定標(biāo)準(zhǔn)，并有助于充分利用廢料，例如，它可測(cè)量低于1ppm含量級(jí)別的鋅元素。

OE750通過降低氬氣消耗并提高電光轉(zhuǎn)換效率的運(yùn)行具有難以置信的成本效益。

OE750的創(chuàng)新設(shè)計(jì)還可為您帶來其他益處。密封火花臺(tái)具有優(yōu)化氣流設(shè)計(jì)，可降低氬氣消耗，從而使氬氣成本削減高達(dá)5,500美元/年（基于300次測(cè)量/天）。事實(shí)上，該組件位于密封裝置中，可最大限度地減少污染，從而減少光譜儀停止運(yùn)行以進(jìn)行維護(hù)的時(shí)間。該光譜儀可在中壓環(huán)境下運(yùn)行，由此允許使用僅在一段時(shí)間內(nèi)需要工作的無油泵，可將泵的功耗降低90%，同時(shí)增加儀器的可用性。

帶有高級(jí)軟件選項(xiàng)的直觀控件使OE750易于使用，對(duì)您的組織而言是一筆寶貴的財(cái)產(chǎn)。

如果說這款光譜儀都難以使用，則世界上最好的技     術(shù)便毫無實(shí)際用途。這就是我們確保OE750包含直觀軟件的原因，該軟件專為支持當(dāng)前的高性能金屬分析而設(shè)計(jì)。例如，日立牌號(hào)數(shù)據(jù)庫（GRADE Database）是標(biāo)準(zhǔn)配置，可確保立即訪問來自69個(gè)國家/標(biāo)準(zhǔn)的339,000多種材料中的1,200多萬條記錄。另一個(gè)示例是可選爐料校正軟件，該軟件可在計(jì)算能使熔體符合規(guī)格的最具成本效益的方法時(shí)，考慮熔爐容量和可用材料。

延長(zhǎng)正常運(yùn)行時(shí)間和減少維護(hù)，可確保您在生產(chǎn)過程中有條不紊。

如上所述，密封光學(xué)設(shè)計(jì)可降低污染的幾率，由此節(jié)省維護(hù)、標(biāo)準(zhǔn)化和透鏡清潔時(shí)間。通過減小光室的體積，可確保OE750在一小時(shí)內(nèi)隨時(shí)進(jìn)行大量分析（盡管對(duì)于遠(yuǎn)紫外波長(zhǎng)和氮的分析而言，可能需要較長(zhǎng)時(shí)間）?？筛鶕?jù)需要進(jìn)行盡可能多的測(cè)量，以確保生產(chǎn)符合規(guī)格。

高級(jí)數(shù)據(jù)管理允許保存完整記錄，使審計(jì)時(shí)的一切事項(xiàng)變得更簡(jiǎn)單。

OE750配備有與日立ExTOPE Connect高級(jí)數(shù)據(jù)管理和存儲(chǔ)服務(wù)連接的內(nèi)置連接器。可免費(fèi)獲得無限制的安全數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，并可從任何連接的計(jì)算機(jī)上訪問結(jié)果?？蓮囊粋€(gè)集中位置管理多臺(tái)光譜儀，即使這些光譜儀分散在不同場(chǎng)所。這使得存儲(chǔ)大量數(shù)據(jù)并在需要時(shí)檢索數(shù)據(jù)變得更加容易，例如在審計(jì)期間或響應(yīng)客戶請(qǐng)求時(shí)。