元素分析儀/鍍層厚度測試儀（雙功能）XRF-2000R
廠家：Micro Pioneer
快速無損分素多種元素
0.1ppm - 100wt%
無需樣品加工
固體、液體、粉、薄膜、涂層不規(guī)則形狀，顆粒
自動激光對焦系統(tǒng)
友好的用戶界面，簡單的使用軟件
成本低，強大的售后服務團隊
多用途的應用系統(tǒng)
完全符合RoHS, WEEE, ELV優(yōu)化應用
貴金屬分析應用(金、銀、鉑金其他珠寶等。)
薄膜或復雜的多層鍍層厚度測量的應用
其他的客戶關注的元素分析應用
XRF-2000R軟件每個功能都有獨立的窗戶。在測量的同時,會提供測量部位圖像和定性分析的統(tǒng)計。測量數(shù)據(jù)的發(fā)送到Microsoft Excel和其他辦公軟件。
通過點擊想要在鏡頭監(jiān)控，點和拍攝功能的位置可以適合的位置自動測量
XRF - 2000R可以處理多種類型的統(tǒng)計數(shù)據(jù) ， 包括均值報告盧比圖， 直方圖等提供樣本和分析數(shù)據(jù) ， 并確定與應用法規(guī)遵從現(xiàn)實時間。
與控制系統(tǒng)的階段也支持各種接口結果值（Excel，HTML和 數(shù)據(jù)庫格式）
技術數(shù)據(jù)
樣品室尺寸：W610mm D670mm H490mm, Weight 75Kg (net)
可測量尺寸：W550mm D550mm H30mm
X射線管：銠（銀，鉬）靶，1 - 50KV，1.0mA電流。 微聚焦管
過濾器系統(tǒng)：5個自動切換的初級過濾系統(tǒng)
準直器系統(tǒng)：從0.1毫米到3.0mm多達6個自動切換準直器 客戶選擇準直器大?。ㄌ厥鈶玫目蛇x）
X射線檢測器：電子佩爾蒂埃冷卻硅半導體（PIN二極管）檢測器
無液態(tài)氮氣，檢測分辨率 149eV FWHM在5.9Kev
視頻系統(tǒng)：彩色CCD相機倍率約，20倍變焦取決于顯示器大小或100倍變焦（可選）準直儀圓電子十字線
分析樣品：固體，液體和粉末
檢測范圍： 從Al（13）到U（92）1ppm的- 100wt％（真空可選）
輻射安全：完全的保護，故障安全系統(tǒng)就自動關機門傳感器快門傳感器，溫度傳感器，設計的X射線安全
主電源：110/220V交流電源50/60Hz
頻譜處理：數(shù)字脈沖處理。自動峰身份證，各種強度的方法-
毛重，凈重，數(shù)字濾波，背景去除
死區(qū)時間修正，密度校正，頻譜自動縮放
控制系統(tǒng) ：桌面電腦或筆記本電腦與Windows 2000/XP/Vista環(huán)境
RoHS指令WEEE指令ELV指令優(yōu)化的應用
FP法：無樣品定性資料分析30項目的籌備工作
校準方法：用標準物質標定定量分析
鍍層厚度測量中的應用多達6層
數(shù)據(jù)輸出：的MS - Excel或HTML格式的用戶或數(shù)據(jù)庫創(chuàng)造性自定義報告
下面是一些關于貴金屬分析和符合樣本的結果分析PVC
Ele. Given
Value
Measured
Value
Ele. Given
Value
Measured Value
Pt 100 % 99.99 % Pb 400 ppm 406 ppm
Pt 97 % 97.02 % Cd 100 ppm 102 ppm
Au 100 % 99.99 % Hg 200 ppm 191 ppm
Au 76.3 % 76.18 % Cd 400 ppm 415 ppm
Au 51.8 % 51.67 % Br 500 ppm 520 ppm
測量條件：
測量時間：100
每個樣品測量10次
認證測試的標準是由
濕化學分析和ICP - AES，MS。
珠寶 聚氯乙烯標準
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