電容使用的常見誤區(qū)
很多人在電容的替換中往往愛用大容量的電容。我們知道雖然電容越大,為IC提供的電流補(bǔ)償?shù)哪芰υ綇?qiáng)。
且不說電容容量的增大帶來的體積變大,增加成本的同時還影響空氣流動和散熱
ESR越低,效果越好?
相對容量的要求,對ESR的要求可以適當(dāng)?shù)慕档?。因?yàn)檩斎腚娙葜饕悄蛪海浯问俏誐OSFET的開關(guān)脈沖。
對于輸出電容來說,耐壓的要求和容量可以適當(dāng)?shù)慕档鸵稽c(diǎn)。ESR的要求則高一點(diǎn),因?yàn)檫@里要保證的是足夠的電流通過量。
但這里要注意的是ESR并不是越低越好,低ESR電容會引起開關(guān)電路振蕩。
而消振電路復(fù)雜同時會導(dǎo)致成本的增加。板卡設(shè)計中,這里一般有一個參考值,此作為元件選用參數(shù),避免消振電路而導(dǎo)致成本的增加。
鋁電解電容的失效機(jī)理
1.漏液
在正常的使用環(huán)境當(dāng)中,經(jīng)過一段時間密封便可能出現(xiàn)泄漏。通常,溫度升高、振動或密封的缺陷等都有可能加速密封性能變壞。漏液的結(jié)果是電容值下降、等效串聯(lián)電阻增大以及功率耗散相應(yīng)增大等。漏液使工作電解液減少,喪失了修補(bǔ)陽極氧化膜介質(zhì)的能力,從而喪失了自愈作用。此外,由于電解液呈酸性,漏出的電解液還會污染和腐蝕電容器周圍其他的元器件及印刷電路板。
2.介質(zhì)擊穿
鋁電解電容器擊穿是由于陽極氧化鋁介質(zhì)膜破裂,導(dǎo)致電解液直接與陽極接觸而造成的。氧化鋁膜可能因各種材料、工藝或環(huán)境條件方面的原因而受到局部損傷,在外電場的作用下工作電解液提供的氧離子可在損傷部位重新形成氧化膜,使陽極氧化膜得以填平修復(fù)。但是如果在損傷部位存在雜質(zhì)離子或其他缺陷,使填平修復(fù)工作無法完善,則在陽極氧化膜上會留下微孔,甚至可能成為穿透孔,使鋁電解電容擊穿。工藝缺陷如陽極氧化膜不夠致密與牢固,在后續(xù)的鉚接工藝不佳時,引出箔條上的毛刺刺傷氧化膜,這些刺傷部位漏電流很大,局部過熱使電容器產(chǎn)生熱擊穿。
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