南京高低溫試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行
環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)
GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
型號(hào)
|
GDW-50
|
GDW-100
|
GDW-150
|
GDW-225
|
工作室尺寸:mm
|
350×350×450
|
400×450×550
|
500×500×600
|
500×600×750
|
型號(hào)
|
GDW-408
|
GDW-800
|
GDW-1000
|
GDW-1500
|
工作室尺寸:mm
|
650×750×850
|
800×1000×1000
|
1000×1000×1000
|
1500×1000×1000
|
技
術(shù)
參數(shù)
|
溫度范圍
|
A型-20℃~+100℃(+150℃)/ B型 -40℃~+100℃(+150℃)
C型 -70℃~+100℃
|
波動(dòng)度
|
≤±0.5℃
|
均勻度
|
≤2℃
|
升溫速率
|
1.0~3.0℃/min
|
降溫速率
|
0.7~1℃/min
|