IC封裝冷熱沖擊試驗(yàn)箱 光電冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱
IC封裝冷熱沖擊試驗(yàn)箱TS-80適用于電子、電工產(chǎn)品和其他軍用設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),也是篩選電子元器件初期故障的最佳助手。
IC封裝冷熱沖擊試驗(yàn)箱TS-80特點(diǎn)
1、分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)完全靜止,采用獨(dú)特之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū),完成冷熱溫度沖擊測(cè)試;既可作冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用又可以作單獨(dú)的高溫箱或單獨(dú)的低溫箱使用;
2、可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線測(cè)試部件;
3、大型彩色LCD觸控對(duì)話式微電腦控制系統(tǒng),操作簡(jiǎn)單易懂,運(yùn)行狀態(tài)一目了然;
4、全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng);
5、具有RS-232或RS-485通訊接口,可連接電腦遠(yuǎn)程操控,使用便捷;
6、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇2槽或3槽之功能,并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能;
7、可在預(yù)約開機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能;
8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù),自動(dòng)(手動(dòng))除霜;
9、采用人機(jī)界面控制器,程序設(shè)定方便,異常及故障排除顯示功能齊全。
IC封裝冷熱沖擊試驗(yàn)箱TS-80執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法;
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法;
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);
6、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn)。
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱
9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
10、GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
11、GB/T2423.22-2002溫度變化
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
13、EIA364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估
艾思荔專業(yè)生產(chǎn)IC封裝冷熱沖擊試驗(yàn)箱、光電冷熱沖擊試驗(yàn)箱、電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱等測(cè)試設(shè)備,擁有多年的生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)。專業(yè)生產(chǎn)環(huán)境測(cè)試設(shè)備。
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